ZYGO 4104C 位移测量电子装置

ZYGO 4104C 位移测量电子装置

Zygo激光干涉仪红外干涉仪

适用于高精度红外成像应用的测量方法

光学成像的应用广泛，种类繁多。在系统的设计波长下进行测试对开发、最终对准和鉴定至关重要。

用于航空航天和国防的夜视、红外和热成像系统、光刻子系统、遥感望远镜和外来材料鉴定对波长有不同的要求，而它们都受益于在红外干涉仪系统在设计波长下的测试。

ZMI™系列–位移测量干涉仪

ZMI位移测量板

ZMI™位移测量板利用由ZMI™激光源驱动的干涉仪发出的光信号来计算位移。

ZMI™501A有一个便利的独立外壳，提供了两个测量轴。

ZMI™2400、4000和4100系列板可提供亚纳米级的分辨率，适用于最具挑战性的位置计量应用。这些板卡可以模块化地添加到VME机箱中，支持扩展到多达64个测量轴。

我们荣获专利的循环减小误差选项可以自动、无缝地消除DMI系统中常见的固有非线性误差，从而达到最高的测量精度。

ZYGO长期以来被公认为是世界上干涉测试仪器的先行者，已经设计和制造了许多特殊装备的干涉仪系统，包括NIR、SWIR、MWIR和LWIR波长的系统。ZYGO还设计和制造了一系列用于这些波长的参考光学器件（透射球面镜和透射平面镜）。

主要特点

工作波长范围广：

NIR：1.053μm&1.064μm

SWIR：1.55μm

MWIR：3.39μm

LWIR 10.6μm

基于工作波长的QFAS十字快速对准视图简化了红外测试系统和组件的设置。

ZYGO独有的QPSI™采集技术，可在振动较常见的环境中实现可靠的测量，NIR、SWIR和MWIR型号均配有这种技术。

可选的DynaPhase™瞬时数据采集技术，对振动不敏感，可在最恶劣的环境中进行测量。

Zygo激光干涉仪红外干涉仪信息由Zygo为您提供，如您想了解更多关于Zygo激光干涉仪红外干涉仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电

ZYGO 7701

ZYGO 7702

ZYGO 7702PPD

ZYGO 7712

ZYGO 7714

ZYGO 7724

ZYGO 7705

ZYGO ZMI 2400

ZYGO ZMI 4004

ZYGO ZMI 4104

ZYGO ZMI 501A

ZYGO 5517A

ZYGO 5517B

ZYGO 5517C

ZYGO 5517D

ZYGO 5501B

ZYGO JDSU CDPS 532M

ZYGO Exlsr-532-55-194

ZYGO Z4203B/C

ZYGO Z4203D

ZYGO Z4203P

ZYGO 1001A

ZYGO 1001C

ZYGO 1001F

ZYGO RLU20-A3-A3

ZYGO RLU20-A3-XX